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多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品型號(hào):LS-VCS-SCI-LIV
  • 更新時(shí)間:2024-12-28

簡(jiǎn)要描述:多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)特別適合晶圓和模組封裝用戶在實(shí)驗(yàn)室對(duì)VCSEL/LD的研發(fā)使用,用于驗(yàn)證VCSEL/LD各個(gè)工藝過程中的光電特性。實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL/LD單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量等。

產(chǎn)品詳情

多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)

型號(hào):LS-VCS-SCI-LIV

 

VCSELVerticalCavitySurfaceEmittingLaser,垂直共振腔表面放射激光)技術(shù)目前在在人臉識(shí)別、3D感測(cè)、汽車自動(dòng)駕駛、手勢(shì)偵測(cè)和VR(虛擬現(xiàn)實(shí))/AR(增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))/MR(混合現(xiàn)實(shí)等應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越受到關(guān)注,可以為客戶提供VCSELVCSEL-3DSENSING/TOF檢測(cè)解決方案:LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測(cè)試、VCSEL專用積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測(cè)量、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量、近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量等各種定制化應(yīng)用需求。

多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng) 

LS-VCS-SCI-LIV精密溫控型LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)專門針對(duì)基于3D-SENSING脈沖激光LIV光譜測(cè)試研發(fā)而成,特別適合圓和模組封裝用戶在實(shí)驗(yàn)室對(duì)VCSEL/LD的研發(fā)使用,用于驗(yàn)證VCSEL/LD各個(gè)工藝過程中的光電特性。實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL/LD單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量等。
   

LS-VCS-SCI-LIV精密溫控型多功能光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)專門針對(duì)基于3D-SENSING脈沖激光、脈沖LD/LED測(cè)試研發(fā)而成,該系統(tǒng)可用于對(duì)VCSELLD/LED光電特性檢測(cè),以保證VCSEL、LD/LED脈沖激光輻射光譜滿足器件光學(xué)功能和IEC-60825-2激光安全-人眼安全應(yīng)用需求。

 

技術(shù)特點(diǎn):

l   強(qiáng)大的專用軟件分析功能,可以掃描測(cè)量LIV曲線,PCE曲線,溫度-峰值波長(zhǎng)-光功率曲線,可設(shè)置掃描精度和速度,可測(cè)量光電轉(zhuǎn)換效率,自動(dòng)保存測(cè)試數(shù)據(jù)

l  高精度光學(xué)分辨率光譜儀光譜范圍400-1100nm可選,光譜分辨率0.1nm,實(shí)現(xiàn)光譜峰值波長(zhǎng)和半高全寬(FWHM)測(cè)量,最快可實(shí)現(xiàn)2kHz采樣速率,可掃描測(cè)量溫度-峰值波長(zhǎng)-功率曲線等

l  手動(dòng)或全自動(dòng)探針平臺(tái),可實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓或模組的自動(dòng)化LIV光譜功率測(cè)試

l  可對(duì)樣品精確控溫,可設(shè)置掃描步長(zhǎng),可實(shí)現(xiàn)高速同步觸發(fā),可預(yù)設(shè)/自定義測(cè)量

l  多線程聯(lián)用(大功率高精度電流源、高精度高速數(shù)字萬(wàn)用表、多通道同步數(shù)字萬(wàn)用表、功率探頭、光譜儀、溫度控制器等),可以實(shí)現(xiàn)光譜、功率、電流、溫度等參數(shù)的程序化、自動(dòng)化掃描測(cè)量

l   一體化工控機(jī)箱,高分辨液晶顯示,自動(dòng)化集成化操作軟件

l   采用四線測(cè)量方法,實(shí)時(shí)記錄實(shí)測(cè)電流、電壓值,功率值,測(cè)試更準(zhǔn)確

l   程序可設(shè)置連續(xù)及脈沖掃描兩種模式

l  壽命老化檢測(cè)功能:在恒定或脈沖條件下(電流、溫度),每隔時(shí)間間隔測(cè)試記錄一次光譜和功率數(shù)據(jù)

 

多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng)主要技術(shù)指標(biāo):

多功能LIV光譜功率積分測(cè)試系統(tǒng) 


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