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簡要描述:ZEISS/蔡司Axiolab5智能顯微鏡在舒適的操作條件下進(jìn)行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析。從三種Axiolab5主機(jī)型號中為您的應(yīng)用選擇合適的配置:反射光照明和/或透射光照明;用于正交偏光和錐光觀察的Axiolab5.
ZEISS/蔡司Axiolab5智能顯微鏡
ZEISS/蔡司Axiolab5智能顯微鏡在舒適的操作條件下進(jìn)行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析。從三種Axiolab5主機(jī)型號中為您的應(yīng)用選擇合適的配置:反射光照明和/或透射光照明;用于正交偏光和錐光觀察的Axiolab5.
介紹
舒適的操作條件下進(jìn)行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析
從三種Axiolab5主機(jī)架中為您的應(yīng)用選擇合適的配置:反射光照明和/或透射光照明;用于無畸變和錐光觀察的Axiolab5。
在金相學(xué)中,Axiolab5廣泛應(yīng)用于高樣品的檢測。在結(jié)構(gòu)檢測時(shí),可以分析金屬的微觀結(jié)構(gòu)和晶粒大小或者捕獲導(dǎo)致材料缺陷的相關(guān)機(jī)理信息,例如:疲勞度、腐蝕、應(yīng)力裂紋和裂縫。使用130至1200萬像素的數(shù)碼相機(jī)記錄檢測結(jié)果。
偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測樣品時(shí)用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結(jié)構(gòu)。使用明場、熒光和偏光顯微技術(shù)分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質(zhì)學(xué)家,則可以使用該儀器檢測巖石切面和礦物樣品,例如:用于石油開采。在環(huán)境保護(hù)應(yīng)用中,它還能夠用于辨識諸如石棉纖維材料的微觀結(jié)構(gòu)。
系統(tǒng)
單機(jī)
無需使用計(jì)算機(jī)即可成像和記錄數(shù)據(jù)
通過與蔡司Axiocam208color相結(jié)合,蔡司Axiolab5可獨(dú)立于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)運(yùn)行。
蔡司Labscope
用于互聯(lián)環(huán)境中常規(guī)成像
對于互聯(lián)的顯微鏡而言,將蔡司Axiolab5與蔡司Labscope成像應(yīng)用程序結(jié)合操作可達(dá)到理想效果,尤其適用于教育領(lǐng)域。
蔡司ZENcore
高級應(yīng)用
使用蔡司ZENcore成像軟件控制蔡司Axiolab5智能顯微鏡完成高級成像和分析任務(wù)。
特點(diǎn)
•4位反射光轉(zhuǎn)盤選擇微觀結(jié)構(gòu)檢測的更佳觀察方式。借助壓按模塊增加其他觀察方式。
•主機(jī)架內(nèi)置有50W鹵素?zé)艉碗娫?。另外?/span>LED光源具有恒定的色溫、低功耗和超長使用壽命特點(diǎn)。
•Axiolab5便于操作,只需一只手便可操控主要部件。
•以舒服的坐姿研究非常細(xì)微的結(jié)構(gòu),并記錄每種材料缺陷,即便長時(shí)間使用也不會感到疲勞。
•選擇適合于無畸變或錐光觀察的主機(jī)架以偏光觀察方式檢測雙折射材料。
•用于偏光顯微觀察的Axiolab5配有中心定位式4位物鏡轉(zhuǎn)盤。
優(yōu)勢
輕松執(zhí)行數(shù)字化數(shù)據(jù)記錄
找到感興趣區(qū)域后,只需按下顯微鏡主機(jī)兩側(cè)的拍照按鈕,即可獲得圖像,操作簡單便捷。您甚至無需移動手的位置即可控制顯微鏡及其連接的相機(jī),同時(shí)可以始終專注于樣品。
輕松完成實(shí)驗(yàn)室檢測工作
Axiolab5易于操作且符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)理念,使其成為實(shí)驗(yàn)室日常工作的好幫手。只需單手便可操作主要控件,包括拍照按鈕、載物臺移動手柄、調(diào)焦旋鈕和亮度調(diào)節(jié)。
更經(jīng)濟(jì)、更可靠
使用Axiolab5還無需額外購置計(jì)算機(jī)和軟件,可以節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間和成本。通過運(yùn)用智能顯微鏡功能,無論由專家級、還是非專家級用戶操作Axiolab5,皆可確保在短時(shí)間內(nèi)獲得可靠的數(shù)據(jù)。
智能顯微鏡設(shè)計(jì)理念
優(yōu)化工作流程,助您提高工作效率
與蔡司顯微數(shù)碼相機(jī)Axiocam208color結(jié)合使用,能充分發(fā)揮單機(jī)版智能顯微成像解決方案的優(yōu)勢。數(shù)字化數(shù)據(jù)記錄是系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一部分:只需按下符合人體工程學(xué)的拍照按鈕,即可輕松完成。自動完成白平衡、曝光時(shí)間和圖像增強(qiáng)功能等相機(jī)參數(shù)設(shè)置。無需額外使用成像軟件或計(jì)算機(jī),便可完成以下操作:
· 直接拍攝圖像和錄制視頻
· 通過屏幕顯示器,使用鼠標(biāo)和鍵盤(可選)操控相機(jī)
· 保存設(shè)置
· 存儲圖像以及顯微鏡和相機(jī)的所有元數(shù)據(jù)和比例尺信息
· 預(yù)定義圖像名稱或重命名圖像
只需按下按鈕,即可進(jìn)行圖像采集和數(shù)據(jù)記錄—無需釋放其他控件(如焦距驅(qū)動旋鈕)
偏光
多用途偏光檢測
•Axiolab5是一款多用途偏光顯微鏡,可用于地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、化石燃料資源的勘探等應(yīng)用。
•它能夠解決折射率、分裂、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關(guān)問題。
•可以使用測量補(bǔ)償器擴(kuò)展其應(yīng)用范圍。選擇固定式和旋轉(zhuǎn)式補(bǔ)償器來拍攝大小光程差,以及測定纖維狀物質(zhì)的光學(xué)特性。360°旋轉(zhuǎn)式載物臺則用于測量分裂和消光角。
•適用于錐光觀察的主機(jī)架展現(xiàn)了檢偏器和Bertrand透鏡的出色結(jié)合。當(dāng)Bertrand透鏡轉(zhuǎn)入光路時(shí),這種邏輯機(jī)械耦合可以保證檢偏器轉(zhuǎn)至操作位置。
金相學(xué)
典型的任務(wù)與應(yīng)用
· 確定晶粒尺寸、結(jié)構(gòu)、分布和相。
· 快速執(zhí)行現(xiàn)場分析。
· 材料失效分析研究:疲勞、腐蝕、蠕變變形、應(yīng)力裂紋或斷裂。
鑄鐵,反射光,明場,ECEPIPLAN20×/0.4
鑄鐵,反射光,暗場,ECEPIPLAN20×/0.4
彩色蝕刻鋼,反射光,明場,ECEPIPLAN20×/0.4
彩色蝕刻鋼,反射光,暗場,ECEPIPLAN20×/0.4
數(shù)據(jù)記錄
典型的任務(wù)與應(yīng)用
· 高通量材料檢驗(yàn)和記錄
· 來料檢驗(yàn)
· 可用于發(fā)布的高品質(zhì)成像
· 失效分析
· 過程質(zhì)量監(jiān)測
電子器件貼片電阻:可用于記錄印刷和接觸表面的質(zhì)量。ECEPIPLAN5×/0.13
透明塑料件上的注塑標(biāo)識字母,ECEPIPLAN5×/0.13
雕刻用銑削標(biāo)記,ECEPIPLAN5×/0.13
激光結(jié)構(gòu)金屬件,ECEPIPLAN5×/0.13
樣品制備
典型的任務(wù)與應(yīng)用
· 監(jiān)控樣品制備過程。
· 快速瀏覽微觀圖像的情況。是否仍可使用?是否需要更換樣品?
· 樣品制備過程中的質(zhì)量監(jiān)控。鑲嵌是否符合質(zhì)量要求?
嵌入樹脂中的彩色蝕刻鋼。檢查鑲嵌質(zhì)量。ECEPIPLAN10×/0.25
球墨鑄鐵。存在腐蝕和石墨球破裂的區(qū)域,表明需要更換樣品。
礦物學(xué)
典型的任務(wù)與應(yīng)用
· 檢查巖石和礦物的薄片,以確定其成分。
· 對各向異性材料進(jìn)行分類,如方解石、橄欖石、鈦石或鋯石。
· 能夠解決折射率、解理、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關(guān)問題。
花崗巖內(nèi)的黑云母,透射光,明場,ECPlan-NEOFLUAR10×/0.3Pol
花崗巖內(nèi)的黑云母,透射光,正交偏光(帶Lambda片),ECPlan-NEOFLUAR10×/0.3Pol
螢石,透射光,明場,ECPlan-NEOFLUAR5×/0.16Pol
螢石,透射光,正交偏光(帶Lambda片),ECPlan-NEOFLUAR5×/0.16Pol
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